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上海交大内部网站上的陈进简历显示：陈进，美国德州大学奥斯汀分校计算机工程硕士、博士。

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2月16日晚，记者从美国“论文文库搜索”网站“UMI Proquest”找到了陈进的博士论文。这篇标题为《模拟和混合电路的故障模型和测试技术》（Fault Modeling and Test Techniques for Analog and Mixed-signal Circuits）的论文，由陈进1998年在美国德州大学奥斯汀分校（The University of Texas at Austin）完成。

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论文概要显示：“多媒体产业的飞速增长，同时促使了模拟和混合信号电路设计的革命性进展。但是，模拟和混合信号电路设计受到了测试落后的严重挑战，目前的测试技术不足以检查模拟电路中的随机缺陷。”就此，陈进在论文中设计了一些测试的算法和技术。

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“论文的方向与芯片设计没有直接关系，有一定间接关系。” 英特尔一位专业人员告诉记者：“但这样的论文与芯片设计相比，如同螺丝对火箭，就像汽车设计与汽车安全测试不同一样。”

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截至发稿前，记者还未收到来自陈进导师——美国德州大学电子工程及计算机工程系教授Jacob Abraham——的电子邮件回复。